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泰克S540参数测试系统

更新时间:2023-08-01

简要描述:

泰克S540参数测试系统
S540参数测试系统 是一个全自动化的 48 引脚参数测试系统,适用于高达 3kV 的功率半导体器件和结构的晶片级测试。*集成式 S540 已针对包括碳化硅 (SiC) 和氮化镓 (GaN) 在内的复合功率半导体材料进行优化,可以在单次测试触摸中执行所有高电压、低电压和电容测试。

泰克S540参数测试系统

S540 功能

  • 在单次探头触摸中自动在多达 48 个引脚上执行所有晶片级参数测试,包括高电压击穿、电容和低电压测量,而无需更改电缆或探头卡基础设施
  • 在zui高达 3kV 的条件下执行晶体管电容测量,如 Ciss、Coss 和 Crss,而无需手动配置测试引脚
  • 在高速、多引脚、全自动测试环境中实现低电平测量性能
  • 基于 Linux 的 Keithley 测试环境 (KTE) 系统软件支持轻松进行测试开发和快速执行
  • 非常适合于过程集成、过程控制监控和生产芯片分类中的全自动或半自动应用
  • 通过zui大程度减少测试时间、测试设置时间和占地面积,降低拥有成本,同时实现实验室级测量性能

吉时利S540 是一种全自动晶圆级参数测试系统,可以在一次 探头接触中执行高达3kV 的所有高压测试、低压测试、低电 流测试和电容测试,大限度地提高生产效率,降低拥有成本。 该系统把吉时利行业领xian的测量仪器与低压和高压开关矩阵、 线缆、探头卡适配器、探头驱动器和KTE 测试软件安全无缝 地集成在一起。终结果,是可以量身定制12~48 针参数测 试系统,而不需要重新配置测试设置,在从高压测试转向低压 测试时不用使用两个单独的测试系统,实现全自动2 端子或3 端子晶体管电容测量,提供pA 级测量性能。

主要特点:

  • 在一次探头接触中,在多 48 针上自动执行所有晶圆级参 数测试,包括高压击穿、电容和低压测量,而不需改变电 缆或探头卡基础设施
  • 执行晶体管电容测量,如 Ciss、Coss 和 Crss,高达 3 kV,而不需手动重新配置测试针
  • 在高速多针、全自动测试环境中实现低电平测量性能
  • 基于 Linux 的 KTE ( 吉时利测试环境 ) 系统软件,简便地开 发测试,快速执行测试
  • 特别适合工艺集成、工艺控制监测和生产芯片分拣等全自动 应用或半自动应用
  • 大限度地缩短测试时间及测试设置时间,减少占用空间, 降低拥有成本,同时实现实验室级测量性能

全面进行高达3 kV 的一遍参数测试

S540 是为用于拥有各种产品组合的环境而优化的,可以配置 为12 针、24 针、36 针或48 针系统。有两种主要配置:基本 高压配置有12 针,高电压/ 低电流配置则有12 针高电压和 36 针低电流。这两种配置都支持多条SMU ( 源测量单元) 通道、 两端子和三端子电容测量、差分电压测量以及脉冲和频率测量。 所有测试引脚都连接到一张探头卡上,因此可以在一个探头接 触中执行所有测试,大限度地提高生产效率,大限度地降 低拥有成本。

12 针高压S540 配置的方框图

12 ~ 48 针高电压/ 低电流S540 配置的方框图

高达3 kV 的全自动两端子和三端子电容测量

除在全自动生产应用中执行的典型2 端子电容测量外,S540 还可以执行半自动研发应用和工艺集成应用中常见的3 端子晶 体管电容测量。可以在高达3 kV 的偏置电压及高达1 MHz 的 频率上执行测试。S540 自动执行这些3 端子测量,如Ciss、 Coss 和Crss,而不需手动配置测试针。这可以更迅速地收集 更多的器件数据,加快测试速度,终加快产品开发周期。

由于普通电容仪表的内置偏置电压低于100 V,因此测量高压 功率半导体的电容要求使用外部电压源和Bias-T。与其他高 压参数测量解决方案不同,S540 使用系统级开路- 短路- 负 载补偿技术,确保Bias-T 不会在测量中注入错误,并能够在 全自动生产环境中实现实验室质量的电容测量。

S540 可以执行全自动实验室质量的三端子电容测量

高速度、低电平测量性能

提供两种不同的系统配置,能够满足不同的参数测试应用环境。S530小电 流系统可配置2至8路源测量单元(SMU)通道,具有亚皮安级测量分辨率,并 为探针卡提供了全面的小电流保护,使其非常适合于亚微米MOS硅工艺的特性分析。S530高电压系统可配置3至7路SMU通道,能够源出高达1000V的电压,可用于汽车电子和功率管理器件所需的各种击穿和漏流测试。

随着当今功率半导体设计效率提高,器件泄漏电流和开点电阻 变得越来越低。S540 的低电流子系统基于吉时利经过验证的 SMU 仪器技术,在高压偏置上提供了pA 级电流测量功能, 可以测量各种低电流特点,如关闭状态泄漏电流、栅极泄漏电 流、低于阈值的泄漏电流等等。选配的高分辨率数字万用表 (DMM) 可以精确测量微欧级读数,并在全自动多针测试环境 中执行其他差分和非差分低压测量,如金属片电阻、电气临界 维度、等等。

强大的系统软件

吉时利S540 系统拥有吉时利测试环境(KTE) v5.7 软件,用于 测试开发和执行。KTE v5.7 的系统级速度较KTE v5.5 多提 高了40%。KTE 装在采用Linux 操作系统的标准工控PC 上,把吉时利数十年的参数测试经验融入到功能中。

KTE 软件

可以简便地编写、转换或重用测量例程和测试计划,帮助您更快地启动和运 行系统。S540 软件包括所有关键系统软件操作:

 

  • 晶圆描述
  • 测试宏程序开发
  • 测试计划开发
  • 极限
  • 晶圆级或组件级测试,支持自动探头控制
  • 测试数据管理
  • 用户接入点
  • 系统诊断

3 kV 探头卡和探头卡适配器(PCA) 解决方案

在多针全自动生产测试应用中进行可靠的高压测量带来了许多 挑战,包括环境、器件布线和探头设计。吉时利为探测zui高 3k V 电压、同时保持低电平测量性能提供了两种优质解决方案: 吉时利9140 和Celadon 45E。此外,为简化探头卡安装和拆卸, 我们作为出厂安装选项提供了inTEST 顶部装载探头卡接口。


 

泰克S540参数测试系统

S540 技术数据

配置指南

主要特点数量
针数 ( 全 force-sense Kelvin):
高压 ( zui高 3 kV,使用HV 矩阵 ) ( 包括 6 针 LC 矩阵直传 )12
低电流 ( zui高 200 V,使用 707B 和 7531 矩阵卡 )0, 12, 24 或 36
SMU 通道数量
高压 ( zui高 3 kV,使用 2657A)1或2
低压 ( zui高 200 V,使用 2636B) ( 每条通道包括 HV 保护模块 )多 8
电容仪表 ( 使用 4210-CVU)
高压 ( zui高 3 kV,包括 Bias-Ts)0或1
低压 ( zui高 30 V,包括保护模块 )0或1
高分辨率 DMM ( 使用 7510)0或1
脉冲发生器 ( 使用 4220-PGU)0或1
示波器 (FMTR)0或1
工控 PC 控制器,采用 Linux 操作系统1
KTE 系统软件1
37U 系统机柜,包括100~240 V、50/60 Hz 配电器(PDU)、应急关闭(EMO)
开关、高压互锁装置和监示器 / 键盘臂
1
探头卡适配器 
吉时利 9140 ( 多 48 针 - 12 针 HV, 36 针 LV) 
Celadon ( 多 42 针 – 12 针 HV, 30 针 LV) 
客户提供选择其中一个

S540 是一种可以全面配置的系统,您可以选择能够满足自己应用要求的配置。

DC 电流/ 电压测量

测量类型SMU 仪器功率范围
高压吉时利 2657A180 W1 fA ~ 120 mA; 100 V ~ 3000 V
低压吉时利 2636B20 W1 fA ~ 1.5 A; 1 V ~ 200 V

电容测量 (2 端子和3 端子电容测量,包括Ciss、Coss、Crss)

测量类型电容仪表DC 偏置电压频率范围
高压吉时利 4210-CVU3000 V 110 kHz, 100 kHz, 1 MHz100 nF - 10 pF
低压吉时利 4210-CVU40 V10 kHz, 100 kHz, 1 MHz100 nF - 10 pF

1. 要求使用2657A SMU 和Bias-T

差分和低压测量

仪器范围
吉时利7510 DMM10nV ~ 200V

脉冲测量

仪器幅度脉宽脉冲跳变
吉时利 4220-PGU100 mV ~ 40 V100 nS ~ 1 S50 nS ~ 200 S

频率测量

仪器范围幅度
FMTR10 kHz ~ 20 MHz10 mV ~ 1 V rms

开关矩阵 - 多48 个测量引脚

引脚类型大电压大针数仪器连接
高电压3000 V12多 2 个 HV SMUs、1 个 HVCMTR 及从 LV 开关矩阵的
6 针直传
低电流200 V36多 8 条 LV SMU 通道、1 个 LVCMTR、DMM、脉冲、
频率 ( 所有低压引脚均包括过压保护 )

系统指标 – 适用于吉时利或Celadon PCA 端

工作温度 23 5C
湿度 5%-60%
预热 1 小时
积分时间 1 PLC
校准周期 1 年

SMU ( 源测量单元) 技术数据

HV SMU ( 吉时利2657A) 工作范围

LV SMU ( 吉时利2636B) 工作范围

高压SMU (2657A) 到高压矩阵

 测量供电
电流范围分辨率精度分辨率精度
120 mA10 A0.03% + 1.5 mA + 1.6 pA/V3 A0.03% + 36.0 A + 1.6 pA/V
20 mA100 nA0.02% + 24.0 A + 1.6 pA/V300 nA0.03% + 12.0 A + 1.6 pA/V
2 mA10 nA0.02% + 5.0 A + 1.6 pA/V30 nA0.03% + 1.2 A + 1.6 pA/V
1 mA1 nA0.02% + 200.0 nA + 1.6 pA/V30 nA0.03% + 300.0 nA + 1.6 pA/V
100 A100 pA0.02% + 25 .0 nA + 1.6 pA/V3 nA0.03% + 60.0 nA + 1.6 pA/V
10 A10 pA0.03% + 1.5 nA + 1.6 pA/V300 pA0.03% + 5.0 nA + 1.6 pA/V
1 A1 pA0.03% + 400.8 pA + 1.6 pA/V30 pA0.03% + 700.8 pA + 1.6 pA/V
100 nA100 fA0.10% + 60.8pA + 1.7 pA/V3 pA0.10% + 60.8pA + 2.1 pA/V
10 nA10 fA0.10% + 5.8 pA + 1.6 pA/V300 fA0.10% + 5.8 pA + 1.6 pA/V
1nA1 fA0. 10% + 1.4 pA + 1.6 pA/V30 fA0.10% + 2.8 pA + 1.6 pA/V
 测量供电
电压范围分辨率精度分辨率精度
3000 V1 mV0.03% + 600.5 mV + 0 V/A80 mV0.03% + 750.5mV + 0 V/A
1500 V1 mV0.03% + 300.5 mV + 0 V/A40 mV0.03% + 375.5 mV + 0 V/A
500 V100 V0.03% + 100.5 mV + 0 V/A10 mV0.03% + 125 .5 mV + 0 V/A
200 V100 V0.03% + 50.5 mV + 0 V/A5 mV0.03% + 50.5 mV + 0 V/A

低压SMU (2636B) 到高压矩阵

 测量供电
电流范围分辨率精度分辨率精度
1.5 A10 A0.40 % + 3.5 mA + 1.6 pA/V50 A0.50% + 4. 0 mA + 1.6 pA/V
1 A10 A0.05 % + 1.5 mA + 1.6 pA/V20 A0.06% + 1.8 mA + 1.6 pA/V
100 mA1 A0.03 % + 0.02 mA + 1.6 pA/V2 A0.05% + 0.03 mA + 1.6 pA/V
10 mA100 nA0.02 % + 2.5 A + 1.6 pA/V200 nA0.03% + 6.0 A + 1.6 pA/V
1 mA10 nA0.02 % + 0.2 A + 1.6 pA/V20 nA0.03% + 0.3 A + 1.6 pA/V
100 A1 nA0.02 % + 25.0 nA + 1.6 pA/V2 nA0.03% + 60.0 nA + 1.6 pA/V
10 A100 pA0.02 % + 1.5 nA + 1.6 pA/V200 pA0.03% + 5.0 nA + 1.6 pA/V
1 A10 pA0.03 % + 0.5 nA + 1.6 pA/V20 pA0.03% + 0.8 nA + 1.6 pA/V
100 nA1 pA0.03 % + 101.7 pA + 1.6 pA/V2 pA0.03% + 101.7 pA + 1.6 pA/V
10 nA100 fA0.06 % + 4.7 pA + 1.6 pA/V200 fA0.06% + 6.7 pA + 1.6 pA/V
1 nA10 fA0.15 % + 1.9 pA + 1.6 pA/V20 fA0.15% + 3.7 pA + 1.6 pA/V
 测量供电
电压范围分辨率精度分辨率精度
200 V1 mV0.02% + 50.3 mV + 0 V/A1 mV0.02% + 50.3 mV + 0 V/A
20 V100 V0.02% + 5.3 mV + 0 V/A100 V0.02% + 5.3 mV + 0 V/A
2 V10 V0.02% + 690.0 V + 0 V/A10 V0.02% + 940.0 V + 0 V/A
200 mV1 V0.02% + 565.0 V + 0 V/A1 V0.02% + 715.0 V + 0 V/A

低压SMU (2636B) 到低电流矩阵

 测量供电
电压范围分辨率精度分辨率精度
1.5 A10 A0.05% + 3.5 mA + 1.3 pA/V50 A0.06% + 4.0 mA + 1.3 pA/V
1 A10 A0.03% + 1.5 mA + 1.3 pA/V20 A0.05% + 1.8 mA + 1.3 pA/V
100 mA1 A0.02% + 20.0 A + 1.3 pA/V2 A0.03% + 30.0 A + 1.3 pA/V
10 mA100 nA0.02% + 2.5 A + 1.3 pA/V200 nA0.03% + 6.0 A + 1.3 pA/V
1 mA10 nA0.02% + 200.0 nA + 1.3 pA/V20 nA0.03% + 300.0 nA + 1.3 pA/V
100 A1 nA0.02% + 25.0 nA + 1.3 pA/V2 nA0.03% + 60.0 nA + 1.3 pA/V
10 A100 pA0.03% + 1.5 nA + 1.3 pA/V200 pA0.03% + 5.0 nA + 1.3 pA/V
1 A10 pA0.03% + 501. 1 pA + 1.3 pA/V20 pA0.03% + 801.1 pA + 1.3 pA/V
100 nA1 pA0.06% + 101.1 pA + 1.3 pA/V2 pA0.06% + 101.1 pA + 1.3 pA/V
10 nA100 fA0.15% + 4.1 pA + 1.3 pA/V200 fA0.15% + 6. 1 pA + 1.3 pA/V
1 nA10 fA0.15% + 1.4 pA + 1.3 pA/V20 fA0.15% + 3. 1 pA + 1.3 pA/V
100 pA1 fA0.15% + 1.3 pA + 1.3 pA/V  
 测量供电
电压范围分辨率精度分辨率精度
200 V1 mV0.02% + 50.2 mV + 0 V/A5 mV0.02% + 50.2 mV + 0 V/A
20 V100 V0.02% + 5.2 mV + 0 V/A500 V0.02% + 5.2 mV + 0 V/A
2 V10 V0.02% + 580.0 V + 0 V/A50 V0.02% + 830.0 V + 0 V/A
200 mV1 V0.02% + 455.0 V + 0 V/A5 V0.02% + 605.0 V + 0 V/A

CMTR ( 电容测量单元) 技术数据

HV CMTR 指标

两端子HVCV 测量( 通过HV 矩阵)。

电容10 kHz100 kHz1 MHz
10 pF10%2%1%
100 pF2%0.5%1%
1 nF0.5%0.5%4%
10 nF0.5%0.5%5%

三端子HVCV 测量( 通过HV 矩阵)

100 kHz

参数典型电容精度1 MHz
输入电容Ciss100 pF-10 nF典型值 5%
输出电容Coss20 pF-2 nF典型值 5%
反向传送电容Crss10 pF-2 nF典型值 5%

1 MHz

参数典型电容精度1 MHz
输入电容Ciss100 pF-10 nF典型值 10%
输出电容Coss20 pF-2 nF典型值 10%
反向传送电容Crss10 pF-2nF典型值 10% ( 参见下
面的备注 1.3)

备注
1. 测量Crss 要求保护电源。在生产系统中,在超过100 kHz 时保护效果有效。测量Ciss 和Coss 不要求保护。
2. 实际精度取决于Ciss/Coss/Crss 之比。
3. 由于上面的备注1 和备注2,这里只是参考数据。

DMM ( 数字万用表) 技术数据 - 吉时利Model 7510

范围分辨率一年精度
100 mV10 nV18 ppm rdg + 9 ppm rng
1 V100 nV15 ppm rdg + 2 ppm rng
10 V10 V14 ppm rdg + 1.2 ppm rng
200 V100 V22 ppm rdg + 5 ppm rng

通用指标和软件

机柜尺寸 60.0 cm 宽 x 91.5 cm 深 x 190.5 cm 高
工频功率 100 V, 115 V, 220 V, 240 V (50 Hz, 60 Hz)
软件 KTE 5.7,包括晶圆描述、测试宏程序开发、测试计划开发、极限设置、测试 数据管理、用户接入点和系统诊断
支持的探头 CascadeTesla, TEL P8XL, Accretech UF3000
探头卡 吉时利, Celadon
EMC 满足欧盟EMC 指令
安全 满足欧盟低压指令
认证 SEMI S2, S8 和S14
保修 一年
支持服务 探头站集成、校准、维修、测试计划迁移和相关分析等协议

注:所有技术数据如有变更,恕不另行通告。

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